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          • CleanMill氬離子研磨系統

            CleanMill氬離子研磨系統為電池樣品SEM表征提供高質量的制樣方案,傳統的機械研磨方式制備樣品斷面,斷面不可避免的存在機械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備,可以制備出沒有機械損傷和表面污染的平整斷面,非常適用于 制備電池材料和部件的斷面樣品,從而進行掃 描電子顯微鏡結構表征分析。

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            更新日期:2023-03-20
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          • ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣

            ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣, 為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統而設計的撞擊式冷凍制樣設備,提供了樣品載體和樣品載臺,它們可以放置在 ALTO 2500 冷凍工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。

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            更新日期:2023-03-20
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          • Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697

            Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697,可利用IlionII進行拋光加工的材料種類十分廣泛,包括由多元素組成的試樣,以及具有不同的機械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導體材料、聚合物和礦物等。

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            更新日期:2023-03-20
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          • SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀

            SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀,去除碳氫化合物對TEM和SEM樣品臺或樣品的污染,*的清洗解決方案,它利用等離子配方,對于所有的樣品,包括Holey碳膜,都具有更快更*的清洗效果。

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            更新日期:2023-03-20
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          • BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀

            BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀,針對SEM/TEM開發出的產品,它可以對不導電樣品進行噴鍍,使導電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進行觀測。

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            更新日期:2023-03-20
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